離子遷移測試系統的發展

  根據現在全球市場來說，離子遷移測試系統的發展需要符合現如今省能源、鉛/無鹵素、小型輕量、低價格、高信賴等要求來發展，也正是在這樣的情況下，離子遷移測試系統的發展也需要獲得重新的評估。

  離子遷移測試系統是一種信賴性試驗設備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓(BIAS VOLTAGE),經過長時間的測試(1～1000小時)并觀察線路是否有瞬間短路的現象發生(ION MIGRATION),并記錄阻抗變化狀況，故又叫做CAF試驗，絕緣阻力電阻試驗，或者是OPEN/SHORT試驗，我們將其統稱為絕緣劣化試驗(ION MIGRATION TESTING)。

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